对CCD传感器使用的AFE进行定时余量测试64
发表时间：2021-02-09 10:45网址：http://www.smart-ele.com 用途 确定AFE对输入信号下降沿时间的灵敏度。 适用于 为开发数字成像产品的半导体和电子公司开发CCD传感器电路的电子设计工程师。  系统原理图
仪器操作界面 推荐使用AFG31252
使用AFG31252的好处 • 高达160 MHz的脉冲频率，脉冲宽度分辨率10 ps或 5位； • 可以独立调节脉冲上升沿时间和下降沿时间； • 波形参数调节可以立即生效，而不需中断测试； • 凭借已获专利的InstaView™技术，AFG31000系列可以显示DUT上的实际波形； • 抖动 (RMS)，典型值＜2.5ps。 技巧和提示 • 把发生器的负荷阻抗设置设成与连接电路的阻抗相匹配，以便准确显示幅度； • 为把AFE的灵敏度隔离到后沿变化，只需调节后沿时间，使前沿时间保持不变。 上一篇DAQ6510 应用指南
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