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对CCD传感器使用的AFE进行定时余量测试

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发表时间:2021-02-09 10:45作者:DanielQiu网址:http://www.smart-ele.com

用途

确定AFE对输入信号下降沿时间的灵敏度。



适用于

为开发数字成像产品的半导体和电子公司开发CCD传感器电路的电子设计工程师。


系统原理图



仪器操作界面




推荐使用AFG31252


图片




使用AFG31252的好处

• 高达160 MHz的脉冲频率,脉冲宽度分辨率10 ps或 5位;

• 可以独立调节脉冲上升沿时间和下降沿时间;

• 波形参数调节可以立即生效,而不需中断测试;

• 凭借已获专利的InstaView™技术,AFG31000系列可以显示DUT上的实际波形;

• 抖动 (RMS),典型值<2.5ps。




技巧和提示

• 把发生器的负荷阻抗设置设成与连接电路的阻抗相匹配,以便准确显示幅度;

• 为把AFE的灵敏度隔离到后沿变化,只需调节后沿时间,使前沿时间保持不变。



 
 
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